本书综合了近几年工业界的最新进展和学术界的最新研究成果,详细介绍并讨论了碳化硅功率器件的基本原理、发展现状与趋势、特性及测试方法、应用技术和各应用领域的方案。本书共分为12章,内容涵盖功率半导体器件基础,SiC二极管的主要特性,SiCMOSFET参数的解读、测试及应用,SiC器件与Si器件特性对比,双脉冲测试技术,SiC器件测试和失效分析技术,高di/dt影响与应对——关断电压过冲,高dv/dt的影响与应对——串扰,高dv/dt影响与应对——共模电流,共源极电感影响与应对,驱动电路,SiC器件的主要应用。