电子器件辐射效应仿真技术-T 工业技术-北京天启书苑文化传媒有限公司

电子器件辐射效应仿真技术

ISBN：9787030805010

价格：128

副题名：

分辑号：

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主要著作者：丁李利, 陈伟, 王坦著

发行地：北京

出版社：科学出版社

出版日期：2025.3

页码：184页

开本：24cm

丛书项：辐射环境模拟与效应丛书

一般性附注：

读者对象：本书对于从事辐射效应、抗辐射加固等相关专业的人员具有实用和参考价值

主题词：电子器件

中图法分类：TN6

装帧：

版次：

图表：图

语种：chi

本书主要介绍电子器件辐射效应仿真技术的内涵、流程与典型用例, 涵盖不同效应类型和辐射效应仿真技术的不同层级, 辐射效应仿真指的是借助计算机等手段, 通过数值计算和图像显示的方法, 利用物理建模和数学建模, 模拟辐射与器件、电路、系统相互作用的过程, 揭示总剂量效应、单粒子效应、位移损伤效应与瞬时剂量率效应的物理机理和规律, 主要包括辐射与材料、器件相互作用的粒子输运模拟、器件内部辐射感生载流子漂移扩散的TCAD器件模拟、器件性能退化对电路功能影响的Spice电路模拟等, 是抗辐射加固设计和抗辐射性能评估中

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